紫外可見分光光度計(jì)|UV757CRT

更新時(shí)間：2025-08-26

產(chǎn)品型號(hào)：UV757CRT

產(chǎn)品報(bào)價(jià)：

產(chǎn)品特點(diǎn)：紫外可見分光光度計(jì)|UV757CRT
采用微機(jī)測(cè)量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換精確，自動(dòng)調(diào)整0%(T)和調(diào)整100%(T)，具有GOTOλ，自動(dòng)8聯(lián)樣品架，自動(dòng)扣除比色皿誤差，濃度多點(diǎn)標(biāo)定，斜率和截距設(shè)置等功能，具有RS232接口和并行打印口(打印機(jī)，另行選配)。

UV757CRT紫外可見分光光度計(jì)|UV757CRT的詳細(xì)資料：

紫外可見分光光度計(jì)|UV757CRT

主機(jī)功能：紫外可見分光光度計(jì)|UV757CRT紫外可見分光光度計(jì)|UV757CRT
采用微機(jī)測(cè)量系統(tǒng)，T-A轉(zhuǎn)換精確，自動(dòng)調(diào)整0%（T）和調(diào)整100%（T），具有GOTOλ，自動(dòng)8聯(lián)樣品架，自動(dòng)扣除比色皿誤差，濃度多點(diǎn)標(biāo)定，斜率和截距設(shè)置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印機(jī)，另行選配）。

聯(lián)機(jī)功能：
通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長(zhǎng)掃描，時(shí)間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長(zhǎng)測(cè)試，并大大擴(kuò)展測(cè)試功能（除主機(jī)功能外）。

技術(shù)指標(biāo)：
● 波長(zhǎng)范圍：200nm～1000nm
● 光源：鎢鹵素?zé)?2V20W（進(jìn)口） DD2.5氘燈（進(jìn)口）
● 接收元件：光電池
● 波長(zhǎng)zui大允許誤差：±0.5nm
● 波長(zhǎng)重復(fù)性：≤0.2nm
● 光譜帶寬：2nm
● 雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處和360nm處，以NaNO2測(cè)定）
● 透射比測(cè)量范圍：0.0%（T）～200.0% （T）
● 吸光度測(cè)量范圍：-0.301（A）～4.000（A）
● 透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
● 噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%（T）
● 穩(wěn)定性：≤0.004A/30min

其它：
● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz

TES-1330A TES-1332A TES-1334A TES-1335 TES-1336A TES-1339 CENTER-337 AZ-8581 UVAB-513 DT-8809A DT-8809 DT-8808 DT-1309 TES-1339 TES-1336A TES-1335